Książki autorstwa David C. Joy

Znaleziono 1 – 12 z 12 pozycji

1. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott | Springer-Verlag New York Inc., 2017

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 11 - 13 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Twarda

   528.76 zł

   Kup książkę
2. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Dale E. Newbury, David C. Joy | Springer Science+Business Media, 2002

   
   

   Na zamówienie - Wysyłamy za 3 - 5 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Twarda

   557.98 zł

   Kup książkę
3. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   564.63 zł

   Kup książkę
4. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2018

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 8 - 10 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   481.01 zł

   Rabat 0 %

   Oszczędzasz 0.02 zł

   Kup książkę
5. 

   Principles of Analytical Electron Microscopy

   Joseph Goldstein, David C. Joy, Alton D. Romig Jr. | Springer Science+Business Media

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Twarda

   868.66 zł

   Kup książkę
6. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   639.17 zł

   Kup książkę
7. 

   Introduction to Electron Holography

   Lawrence F. Allard, David C. Joy, Edgar Völkl | Springer-Verlag New York Inc., 2012

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   564.63 zł

   Kup książkę
8. 

   Helium Ion Microscopy

   David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   285.78 zł

   Kup książkę
9. 

   Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   564.63 zł

   Kup książkę
10. 

    Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer, Berlin, 2011

    
    

    Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

    Język: Angielski

    Oprawa: Miękka

    564.63 zł

    Kup książkę
11. 

    Principles of Analytical Electron Microscopy

    Joseph Goldstein, David C. Joy, Alton D. Romig Jr. | Springer-Verlag New York Inc., 2013

    
    

    Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

    Język: Angielski

    Oprawa: Miękka

    863.72 zł

    Kup książkę
12. 

    Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer Science+Business Media

    
    

    50 % szansa - Przeszukamy cały świat

    Język: Angielski

    Oprawa: Twarda

    858.88 zł

    Kup książkę

W szczegółach książki sprawdzisz, kiedy ją dostaniesz. Zobacz więcej